超高分辨場發(fā)射掃描電鏡是一種重要的顯微鏡技術，用于觀察物質的表面形貌和表征納米結構。其工作原理涉及電子光學、電子源和探測器等多個方面。
超高分辨場發(fā)射掃描電鏡的工作原理如下：
1、電子源發(fā)射：使用熱陰極或場發(fā)射陰極作為電子源。通過加熱熱陰極或在場發(fā)射陰極上施加高電壓，使得電子從陰極表面解離出來并形成電子束。
2、電子光學：電子束經過一系列的電子透鏡系統(tǒng)進行聚焦和控制。主要包括透鏡組合、孔徑調制器和掃描線圈。透鏡組合用于聚焦和調節(jié)電子束的形狀和大小。孔徑調制器控制透射電子的數量和角度，以提高圖像的深度和分辨率。掃描線圈負責將電子束掃描在樣品表面上。
3、樣品交互作用：電子束與樣品表面相互作用。這包括散射、吸收和二次電子發(fā)射等過程。散射是指電子束與樣品的原子和分子發(fā)生相互作用，導致電子的偏轉。吸收是指部分電子被樣品吸收，減弱電子束的強度。二次電子發(fā)射是指當電子束擊中樣品表面時，會激發(fā)出來自樣品表面的二次電子。
4、探測器：還配備了各種探測器，用于檢測并記錄電子與樣品交互作用的信號。最常見的探測器包括二次電子探測器和反射電子探測器。二次電子探測器用于獲取物體表面形貌信息，而反射電子探測器則用于獲得樣品的晶體結構和成分信息。
5、數據處理和圖像生成：通過對探測器產生的信號進行放大、整理和數字化處理，可以生成高質量的圖像。這些圖像可以顯示樣品的表面形貌、晶體結構和元素組成等信息。
總體來說，超高分辨場發(fā)射掃描電鏡利用電子源產生高能電子束，并通過電子光學系統(tǒng)聚焦和掃描電子束在樣品表面上。然后，通過與樣品交互作用以及使用適當的探測器，可以獲得高分辨率的圖像，揭示樣品表面的微觀結構和特征。這使得其在材料科學、納米技術、生物學等領域中得到廣泛應用。
