場發(fā)射掃描電鏡是一種常用的高分辨率顯微鏡，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。它由多個(gè)關(guān)鍵組成部分構(gòu)成，下面將對(duì)場發(fā)射掃描電鏡的主要組成部分進(jìn)行簡析。
1、電子槍：電子槍是FE-SEM的核心部件之一，負(fù)責(zé)產(chǎn)生高能電子束。電子槍包括發(fā)射源和加速系統(tǒng)。發(fā)射源通常采用鎢絲或石墨等材料，并通過加熱使其發(fā)射電子。加速系統(tǒng)使用高壓電場將電子束加速至所需的能量水平。
2、減焦系統(tǒng)：減焦系統(tǒng)用于將電子束從電子槍聚焦為細(xì)小的電子束，以便獲取更高的分辨率。減焦系統(tǒng)通常包括透鏡和電磁透鏡等光學(xué)元件，通過控制電磁場來聚焦電子束。
3、樣品臺(tái)：樣品臺(tái)是放置待觀察樣品的平臺(tái)，通常具有XYZ軸移動(dòng)功能，使得可以對(duì)樣品進(jìn)行精確定位和調(diào)整。樣品臺(tái)上的樣品需要導(dǎo)電性良好，以便在電子束照射時(shí)產(chǎn)生有效的信號(hào)。
4、掃描系統(tǒng)：掃描系統(tǒng)用于控制電子束在樣品表面上的移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的掃描。通常使用電磁掃描線圈來產(chǎn)生控制電子束掃描的磁場，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的像素化掃描。
5、探測(cè)器：探測(cè)器負(fù)責(zé)檢測(cè)由電子束與樣品相互作用所產(chǎn)生的信號(hào)。常見的探測(cè)器包括二次電子檢測(cè)器和反射電子檢測(cè)器。二次電子檢測(cè)器用于獲取樣品表面形貌信息，反射電子檢測(cè)器則用于獲取樣品的元素成分和晶體結(jié)構(gòu)等信息。
6、顯示和記錄系統(tǒng)：FE-SEM通常配備顯示屏和相應(yīng)的圖像處理軟件，用于實(shí)時(shí)觀察和處理樣品的圖像。此外，還可以將圖像記錄下來以供進(jìn)一步分析和保存。
7、真空系統(tǒng)：FE-SEM工作需要在高真空環(huán)境下進(jìn)行，以避免電子束與氣體分子發(fā)生散射而影響分辨率。真空系統(tǒng)包括真空室、泵和閥門等組件，用于維持合適的工作壓力。
總的來說，場發(fā)射掃描電鏡主要由電子槍、減焦系統(tǒng)、樣品臺(tái)、掃描系統(tǒng)、探測(cè)器、顯示和記錄系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)等組成。這些組件共同協(xié)作，使得FE-SEM能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率的樣品表面形貌觀察和分析。
